玻璃可見光透射比系數(shù)檢測儀
| 產(chǎn)品型號： | TUV3200 |
| 更新日期： | 2024-01-10 |
| 訪問次數(shù)： | 1943 |
玻璃可見光透射比系數(shù)檢測儀自動記錄用戶的操作；日志文件采用更為可靠的數(shù)據(jù)庫格式保存；管理員可對日志進行分類查閱和其他處理。
詳細資料：
| 品牌 | TIMESUN |
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玻璃可見光透射比系數(shù)檢測儀優(yōu)點
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強勁的儀器性能：極其優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)，先進的電子學(xué)系統(tǒng)，高水準(zhǔn)的機械系統(tǒng)，保證了0.010%T的超低雜散光，高精度PID溫度控制及24位電壓數(shù)字采樣。
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穩(wěn)定可靠的品質(zhì)：雙光束動態(tài)反饋比例記錄測光系統(tǒng)保證了基線穩(wěn)定性，氘燈、光電倍增管等關(guān)鍵器件均用進口件，保證儀器的穩(wěn)定可靠和長壽命。
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精準(zhǔn)的測量：采用進口優(yōu)質(zhì)全息光柵，進一步降低儀器的雜散光，使儀器分析更加準(zhǔn)確。
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.輕松高效的人機對話：基于Windows環(huán)境設(shè)計的GAF系列智能型建筑玻璃紫外光透射比、反射比、可見光透射比、反射比、太陽光直接透射比、直接反射比、太陽光直接吸收比、太陽能總透射比、遮陽系數(shù)、遮蔽系數(shù)、半球輻射率等中文操作軟件，提供了豐富的儀器控制和操作功能，簡單易用，靈活高效，輕松滿足使用者的分析需求。
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優(yōu)異的可擴展性：反射光學(xué)積分球可選專用附件、建筑玻璃遮陽系數(shù)專用反射裝置，使儀器的應(yīng)用范圍大大擴展。
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設(shè)備維護簡單方便：插座式鎢燈和氘燈，換燈時免去光學(xué)調(diào)試，使設(shè)備儀器調(diào)試、維護更加簡單方便。
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日志記錄功能：自動記錄用戶的操作；日志文件采用更為可靠的數(shù)據(jù)庫格式保存；管理員可對日志進行分類查閱和其他處理。
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采用綜合的光學(xué)及半球輻射一體設(shè)計測試系統(tǒng)，性價比高，便于測試。
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質(zhì)量控制功能：可根據(jù)用戶的設(shè)置對測量數(shù)據(jù)進行監(jiān)控；超出控制范圍的數(shù)據(jù)系統(tǒng)將會顯示提示信息、進行顏色標(biāo)記或自動重新測量。
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報告輸出功能：可實現(xiàn)與其他系統(tǒng)共享數(shù)據(jù)的功能；可將測量結(jié)果保存為Microsoft Word格式、Microsoft Excel格式、文本文件格式；可對報告格式進行個性化的設(shè)置；可提前預(yù)覽結(jié)果報告的打印效果。
玻璃可見光透射比系數(shù)檢測儀操作：
1、試樣制備:試樣為6塊(3塊試驗，3塊備用)于制品相同材料，在相同工藝條件下制作，或者直接從制品上切取的尺寸為 100mm*100mm的試驗片。試驗前用浸有無水乙醇的脫脂棉清洗試樣。
2、檢測前需注明陽光入射面,如入射面為普通玻璃或者涂覆玻璃或者Low-E玻璃。
3、接通電源，打開儀器和電腦，點擊SOptic.SDS軟件。
4、在操作屏幕中依次輸入試樣編號、玻璃層數(shù)、層間距離、玻璃種類等
5、按照透射率、正反射比、反反射比的試驗順序依次放入待測試樣玻片。
6、透射比試驗中，普通玻璃不區(qū)分正反面，涂覆或Low-E等其他玻璃檢測時，鍍膜面放內(nèi)側(cè)即光線入射面。
7、正反射比試驗中，普通玻璃不區(qū)分正反面，涂覆或Low-E等其他玻璃檢測時，鍍膜面向上。
8、反反射比試驗中，普通玻璃不區(qū)分正反面，涂覆或Low-E等其他玻璃檢測時，鍍膜面向下。
9、按照規(guī)范要求完成試驗。
10、試驗結(jié)束后導(dǎo)出試驗數(shù)據(jù)，關(guān)閉機器，切斷電源。
參數(shù)：
| 光 源 | 進口氘燈、溴鎢燈 |
| 波長范圍（nm） | 190-3200 |
| 波長準(zhǔn)確度（nm） | ±0.5（UV/VIS）;±4（NIR） |
| 波長重復(fù)性（nm） | ≤0.3 (UV/VIS)；≤2（NIR） |
| 帶 寬（nm） | 0.2-5（UV-VIS）,1-20 (NIR) |
| 透射比準(zhǔn)確度（%T） | ±0.3（190-2800nm） |
| 透射比重復(fù)性（%T） | ≤0.2（190-2800nm） |
| 雜 散 光（%T） | ≤0.2%T（220nm，NaI） |
| 工作方式 | 透過率、吸光度、反射率、能量（可以自由選擇） |
| 光源轉(zhuǎn)換 | 自動切換（可在全波段范圍內(nèi)任意設(shè)定） |
| 采樣間隔 | 0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、1.5nm、2nm、5nm、10nm |
| 光度范圍 | 0～2.5A |
| 基線平直度 | ±0.004A（200-2500nm，預(yù)熱30分鐘后） |
| 主機接口 | USB2.0 |
| 尺 寸（mm） | （外形）830*600*260、（樣品室）120*240*200 |
| 測試樣品規(guī)格（mm） | 30～110，厚度≤20 |
| 重 量（kg） | 約65 |
